微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用
產(chǎn)品名稱: 微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用
產(chǎn)品型號: SP系列
產(chǎn)品特點(diǎn): 微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用日本 U-TECHNOLOGY(優(yōu)科)SP 系列是一款“同軸高擴(kuò)散型微小 LED 光源照明設(shè)備",主打 telecentric 鏡頭聯(lián)用、空間節(jié)省與高擴(kuò)散均勻性,英文頁面已確認(rèn)以下核心信息:產(chǎn)品定位系列名稱:SP / SPL Series設(shè)計目標(biāo):與 telecentric 鏡頭組合使用,實(shí)現(xiàn)微小視野下的高均勻同軸照明 。結(jié)構(gòu)特點(diǎn)緊湊燈體:
微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用 的詳細(xì)介紹
微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用
微小LED光源照明設(shè)備表面劃痕與破損檢查用
日本 U-TECHNOLOGY(優(yōu)科)SP 系列是一款“同軸高擴(kuò)散型微小 LED 光源照明設(shè)備",主打 telecentric 鏡頭聯(lián)用、空間節(jié)省與高擴(kuò)散均勻性英文頁面已確認(rèn)以下核心信息:
產(chǎn)品定位
系列名稱:SP / SPL Series
設(shè)計目標(biāo):與 telecentric 鏡頭組合使用,實(shí)現(xiàn)微小視野下的高均勻同軸照明
。
結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
典型應(yīng)用
硅晶片、IC 芯片表面劃痕與破損檢查
高反射金屬外殼、玻璃蓋板輕微劃傷檢測
激光字符、二維碼/條形碼識別與對位 。
可選規(guī)格(未列詳細(xì)功率,需另詢)
綜上,SP 系列以“微小-同軸-高擴(kuò)散"為賣點(diǎn),是優(yōu)科專為 Telecentric 成像系統(tǒng)設(shè)計的緊湊型同軸 LED 光源,適用于高反射表面細(xì)微缺陷的高速視覺檢測場景
。如需具體光功率、均勻度報告或 3D 文件,建議向國內(nèi)代理(秋山、玉崎等)索取原廠規(guī)格書。