產品資料
日本napson4探針法測量儀
產品名稱: 日本napson4探針法測量儀
產品型號: RT70V系列
產品特點: 日本napson4探針法測量儀它是測量儀（RT-70V）和測量臺的組合測量儀。
日本napson4探針法測量儀 的詳細介紹
日本napson4探針法測量儀
測量儀：RT-70V>
- 使用JOG撥盤，厚度，溫度，PN輸入（RT-70V測試儀），易于操作
- 自檢功能，自動量程切換，4種測量模式
- 具有厚度/溫度補償功能（用于硅）
<測量階段>
*根據(jù)目的和用途，可以從以下選擇測量階段。
- （1）RG-7C [產品圖片左上]：電機自動上下探針臺
- （2）RG-5 [產品圖像左下方] ：帶手動手柄的探針上下平臺
- （3）RG-7S [產品圖片右上]：用于玻璃基板/薄膜樣品的XY工作臺
- （4）TS-7D [產品圖像右下] ：便捷的探頭類型*平臺板是可選的。
測量規(guī)格
測量目標
- 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣本
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
*組合測量取決于舞臺類型。
圓形：?300mm（12英寸），方形：?730x920mm，可廣泛使用。
測量范圍
［電阻（電阻率）］1μ?300kΩ? cm
［板電阻］ 5m?10MΩ/ sq
測量儀：RT-70V>
- 使用JOG撥盤，厚度，溫度，PN輸入（RT-70V測試儀），易于操作
- 自檢功能，自動量程切換，4種測量模式
- 具有厚度/溫度補償功能（用于硅）
<測量階段>
*根據(jù)目的和用途，可以從以下選擇測量階段。
- （1）RG-7C [產品圖片左上]：電機自動上下探針臺
- （2）RG-5 [產品圖像左下方] ：帶手動手柄的探針上下平臺
- （3）RG-7S [產品圖片右上]：用于玻璃基板/薄膜樣品的XY工作臺
- （4）TS-7D [產品圖像右下] ：便捷的探頭類型*平臺板是可選的。
測量規(guī)格
測量目標
- 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣本
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
*組合測量取決于舞臺類型。
圓形：?300mm（12英寸），方形：?730x920mm，可廣泛使用。
測量范圍
［電阻（電阻率）］1μ?300kΩ? cm
［板電阻］ 5m?10MΩ/ sq
日本napson4探針法測量儀
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