日本DENSOKU電測電阻膜厚度計RST-231

日本DENSOKU電測電阻膜厚度計RST-231

操作簡單，時間短（0.7秒）

高精度測量絕緣體上的金屬薄膜

 ·在0.7秒內測量絕緣體上的金屬膜
·使用PC輕松查看屏幕
·易于校準和測量
- 可以立即查看組件圖和配置文件
·異常值檢測功能

電阻膜厚度計RST-231的特點
在0.7秒內測量絕緣體上的金屬膜

在短時間（0.7秒）內高精度地測量絕緣體上的金屬膜（絕緣銅箔，電鍍等）。

易于閱讀的屏幕配置

使用PC時，屏幕結構大而明亮，易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量。可以選擇兩種類型的測量范圍（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各種數(shù)字

統(tǒng)計處理后，立即可以使用直方圖，配置文件和x-R圖表。

異常值檢測功能

如果設置上下薄膜厚度限制，將通知您異常值。

支持每個探頭的更換

如果探頭*損壞，可以更換每個探頭，并且可以低成本進行維修。

易于統(tǒng)計處理

可以為每個通道保存測量數(shù)據，并且可以稍后為測量數(shù)據設置統(tǒng)計項以執(zhí)行統(tǒng)計處理。

多可注冊40個頻道

多可注冊40個通道，因此您可以通過用戶名或部件號單獨注冊來管理通道。

支持每個探頭的更換

使用四探針探針（開爾文型），并且可以高精度地測量雙面和多層基板，而不受背面和內層的影響。

 

測定原理

探頭有四個直立的金屬銷（探頭）。使這四個探針與待測量的絕緣體上的金屬箔或金屬電鍍表面接觸。 恒定電流（I）通過兩個外部探針并測量電壓（V）。 接觸探針的金屬箔或金屬鍍層的厚度（T）可以在某些條件下使用下式計算。T = K×I÷V其中K是常數(shù)因此，可以通過測量兩個內探針之間的電壓來測量金屬箔或金屬鍍層的厚度。