鋁合金中有害重金屬分析及檢測設備介紹

檢測下限

推薦設備

能量色散 X 射線熒光分析儀“OURSTEX 160"

元素技術的晶體/高靈敏度和高精度

能量色散 X 射線熒光分析儀用 X 射線管發(fā)出的初級 X 射線照射樣品，并用半導體探測器測量產生的 X 射線熒光，因此無論樣品形狀如何，它都是非破壞性和元素定性的。樣品。? 進行定量分析。
半導體探測器采用電子冷卻硅漂移探測器（SDD），無需液氮冷卻，可結合數字計數電路（DSP）測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能，準備了能夠使半導體探測器的能量分辨率和計數靈敏度大化的激發(fā)光學系統的條件。

應用示例

• 同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)

• 焚燒灰分析實例

• 水泥分析示例

• 在采石場現場分析泥沙、礫石和碎石的示例

• 鋁合金中的鎂測量示例（每種類型）

• 農藥污染土壤分析

• 工業(yè)廢棄物分析

• 土壤中有害重金屬元素分析

• 油中的硫分析

• 新型固體燃料RPF分析